TDA.GUI 2.0.1

TDA Framework

半导体芯片量产测试数据分析框架。提供 STDF V4 文件解析、多 Sublot/复测数据关联、并行统计分析（Cp/Cpk）、图表可视化以及数据导入导出能力。

Packages

Installation

dotnet add package TDA
dotnet add package TDA.GUI

Quick Start

加载 STDF 数据并进行良率分析

using TDA;
using TDA.Analysis;

// 1. 配置
var setup = new DataPrismSetup
{
    Sublots = new[]
    {
        new SublotConfig
        {
            SublotName = "Lot001_SL00",
            TestRounds = new[]
            {
                new TestRoundConfig // 初测
                {
                    StdfFilePaths = new[] { "C:\\data\\lot001_sl00_ft1.stdf.gz" }
                },
                new TestRoundConfig // 复测：仅复测 HardBin=2,3 的芯片
                {
                    StdfFilePaths = new[] { "C:\\data\\lot001_sl00_rt1.stdf.gz" },
                    RetestedHardBins = new[] { 2, 3 }
                }
            }
        }
    }
};

// 2. 解析
using var prism = new DataPrism(setup);
prism.Load();

// 3. 查询
Console.WriteLine($"Total devices: {prism.TotalDevices}");
Console.WriteLine($"Yield: {prism.OverallYield:P2}");
Console.WriteLine($"HardBin 1 (Pass): {prism.HardBinCount(1)} devices");

// 4. 按 TestID 获取测试数据并进行统计
var testID = new TestID(testNumber: 1001, testText: "VDD_Isb_Stby");
var stats = prism.GetStatistics(testID);
Console.WriteLine($"Mean={stats.Mean:F4}, StdDev={stats.StdDev:F4}, Cp={stats.Cp:F2}, Cpk={stats.Cpk:F2}");

// 5. 导出
prism.ExportToNedaCsv("C:\\output\\summary.csv");

GUI 图表（TDA.GUI）

using TDA.GUI.Controls;

// 趋势图 — 按芯片测试顺序展示测试值变化
var trendChart = new TrendChart();
trendChart.SetData(prism, testID);
trendChart.Show();

// 直方图 — 支持 Sturges/Scott/FD/Sqrt 四种分箱算法
var histogram = new HistogramPlot();
histogram.SetData(prism, testID);
histogram.Show();

// 晶圆图 — 彩色渲染 Bin 分布（CP 数据专用）
var waferMap = new WaferMapControl();
waferMap.SetData(prism);
waferMap.Show();

Key Concepts

• Lot — 一批同型号芯片，包含一个或多个 Sublot
• Sublot — Lot 的子分组，数据独立但需合并分析
• 初测 (First Test) — 所有芯片的第一轮测试
• 复测 (Retest) — 初测 Fail 芯片的再次测试，可多轮执行（直至回收率低于阈值）
• HardBin / SoftBin — 硬件/软件判定分类，1 号通常为 Pass Bin
• TestID — 由 TestNumber + TestText + TestSequence 三元组唯一标识一个测试项
• DataPrism — TDA 的核心分析引擎，统一管理多 Sublot、多轮次数据的加载和查询

详细背景知识请参阅 Docs/TermsAndTerminology.md

Documentation

API 文档内嵌于各程序集的 XML 文档注释中（<GenerateDocumentationFile>true</GenerateDocumentationFile>），IDE 中悬停即可查看。

License

© TDA Project Contributors